Produktinnovation im Bereich "Test Lösungen für elektronische Systeme"

Auf der Automotve Testing Expo 2010 vom 22.-24. Juni in Stuttgart zeigt die SMART Electronic Development GmbH gleich mehrere Produktinnovationen - Diagnose- und Failsafe-Tester für Steuergeräte, fernsteuerbarer Trennadapter, Simulation von Raddrehzahlsensoren unter Vorgabe von Geschwindigkeitsprofilen, hochgenaue galvanisch entkoppelte Messmodule zur Messung von Spannung und Temperatur und vieles mehr.

Der fernsteuerbare Trennadapter "iBreak" erlaubt eine komfortable, sichere und automatisierbare Nutzung der typischen Funktionalität eines Trennadapters - trennen, messen, einspeisen. Der intelligente Trennadapter kann beispielsweise zum Diagnose-Funktionstest der ECU-Applikation eingesetzt werden.
Die Raddrehzahlsimulation "RDG-SIM" findet ihren Einsatz, wo Steuergeräte im Laborumfeld betrieben bzw. getestet werden. Es können bis zu vier Sensoren parallel simuliert werden, bei denen das Ausgangssignal dem eines echten Raddrehzahlsensors entspricht. Auf der Messe neu vorgestellt werden Funktionserweiterungen wie z.B. die Möglichkeit, Geschwindigkeitsprofile für jedes einzelne Rad zu hinterlegen, oder die Simulation über ein kleines Handbediengerät fernzusteuern.
Das  Highlight stellt das "MCM-Konzept" (Multi Channel Modules) dar. Dabei handelt es sich um ein Baukastensystem verschiedener Baugruppen zum Messen und Stimulieren. Unter anderem werden auf der Messe die Baugruppe zur Spannungsmessung MCM-U08AII (8 Kanäle, galvanisch entkoppelt, bis zu 10ksps je Kanal) und die Baugruppe zur Temperaturerfassung MCM-T08AII-TE (8 Kanäle, galvanisch entkoppelt, für Thermoelemente Typ K) vorgestellt.
Besuchen Sie uns auf der Automotive Testing Expo 2010 in Stuttgart vom 22.-24. Juni am Stand 1468. Neben vielen Produktinnovationen können Sie auch einen Preis gewinnen.